Запросить цену
AF-3000
Измеритель толщины тонких пленок
- характеристики
Модель AF-T050 AF-T010 AF-T001 AF-T100 AF-X010 Диапазон длины волны 400-850nm 250-1050nm 190-1100nm 900-1700nm 250-1700nm (2200nm) Диапазон измеряемой толщины 50nm-100µm 10nm-100µm 1nm-100µm 100nm-250µm 10nm up to 250µm Разрешающая способность 0.01nm 0.01nm 0.01nm 0.01nm 0.01nm Точность измерения 0.2%&1nm 0.2%&1nm 0.2%&1nm 0.5%&2nm 0.5%&1nm Повторяемость 0.1nm 0.1nm 0.1nm 0.3nm 0.2nm Стабильность 0.05nm 0.05nm 0.05nm 0.1nm 0.08nm Угол падения 90° Количество измеряемых слоёв 10 слоев Измерение показателя преломления Возможно измерить Измеряемые материалы Прозрачные или полупрозрачные материалы Метод измерения Отражение (Рефлектометрия) Измерение шероховатых материалов Возможно измерить Частота сбора данных онлайн 100ms~1s Рабочее расстояние Стандартно: 1,5–3 мм, максимум до 50 мм (необходимо дополнительное оборудование) Размер светового пятна 100µm или 200µm или 400µm Функция картографирования Поддерживается (необходимо дополнительное оборудование) Индивидуальная настройка под клиента Кастомизация ПО и АО в соответствии с требованиями заказчика
| Model | AF-3000 |
| Brand | ATOMMETRICS |
