Сканирующий микроскоп WIN SEM A8000

  • WIN SEM A8000 — сканирующий электронный микроскоп с термополевым катодом типа Шоттки, 1x ~ 2.000.000x

    Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) A8000, оснащенный электронной пушкой с термополевым катодом типа Шоттки (Schottky FEG), является универсальным высокоразрешающим микроскопом для широкого круга исследуемых материалов. В электронно-оптической колонне микроскопа используется технология ускорительной трубки для уменьшения аберраций и обеспечения высокого пространственного разрешения в том числе и при очень малых ускоряющих напряжениях, что важно при работе с диэлектрическими и чувствительными к электронному облучению материалами.

    • Пространственное разрешение: 1,0 нм при 30кВ (SE), 1,5 нм при 1 кВ (SE)
    • Диапазон увеличения:
      1x ~ 2.000.000x
    • Источник электронов: термополевой катод типа Шоттки

    A8000 в базовой конфигурации укомплектован двумя детекторами вторичных электронов: классическим детектором Эверхарта-Торнли (ETD SED), а также внутрилинзовым детектором вторичных электронов (InLens SED), установленным на оптической оси электронной колонны микроскопа. Дополнительно на микроскоп могут быть установлены твердотельные полупроводниковые детекторы обратно-рассеянных электронов (BSE) и детектор для режима сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM). Возможность детектирования различных электронных сигналов позволяет получать как данные о морфологии поверхности образца, так и информацию о его внутренней структуре. Кроме того микроскоп опционально может быть оснащен аналитическими приставками для анализа химического элементного состава и кристаллографии, исследования оптических и электрических свойств, проведения механических и температурных испытаний.

    Технологии

    Совершенная система детектирования

    • Одновременный сбор сигнала от двух типов детекторов вторичных электронов (SE), обратно-рассеянных электронов (BSE), и детектора сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM).
    • Одновременное отображение морфологии и материального контраста для наиболее полного и всестороннего исследования формы поверхности и структуры образца.

    Интуитивный и дружественный интерфейс пользователя

    • Ясное и не перегруженное расположение элементов управления
    • Множество интерлоков для безопасного управления микроскопом
    • Эргономичная работа с клавиатурой
    • Простое управление, доступное как новичкам, так и экспертам в микроскопии

    Мощная и универсальная аналитическая платформа

    • Модульный дизайн и масштабируемая архитектура, позволяют проводить дооснащение микроскопа в течение всего срока эксплуатации
    • Специальные решения от сторонних поставщиков аналитического оборудования доступны по запросу пользователя
    • Множество портов и интерфейсов для подключения различных дополнительных приставок, таких как: EDS, EBSD, WDS, CL, испытательных столиков, и прочего оборудования
    Технические характеристики
    • Пространственное разрешение: 1,0 нм при 30кВ (SE), 1,5 нм при 1 кВ (SE)
    • Диапазон увеличения: 1x ~ 2.000.000x
    • Источник электронов: термополевой катод типа Шоттки
    • Ускоряющее напряжение: 20 В ~ 30 кВ
    • Ток электронного пучка: 1 пА ~ 20 нА
    • Вакуумная система: 1 ионный геттерный насос, 1 турбомолекулярный насос, 1 форвакуумный насос
    • Детекторы: SE (InLens) внутрилинзовый, SE (ETD) в вакуумной камере, BSE, CCD
    • Дополнительные порты: Порты на вакуумной камере для установки дополнительных детекторов и приставок BSE, EDS, EBSD, CL...
    • Координатный стол: 5-осевой полностью моторизованный, Диапазон перемещения: X=125 мм, Y=125 мм, Z=50 мм, R=360°, T=-5°~+70°
    • Максимальный размер образца: Внутренний диаметр камеры 330 мм, Высота 260 мм
    • Размер получаемых изображений: 256 x 256 ~ 16k х 16k пикселей
    • Управление микроскопом: Компьютер под управлением ОС Windows, профессиональное ПО для анализа изображений и управления микроскопом, мышь, клавиатура, панель управления.
    • Габариты и вес: Основная консоль микроскопа: 1900x1100x1800 мм, 800 кг

    Дополнительные опции

    • A8000 Чистка ионным пучком

    Технологии электронно-оптической колонны

    • Термополевой источник электронов, обеспечивающий высокую стабильность тока эмиссии пучка, высокое пространственное разрешение.
    • Электронно-оптическая колонна с ускорительной трубка для обеспечения высокого разрешения при низких ускоряющих напряжениях.
    • Комбинированная неиммерсионная объективная линза, состоящая из электромагнитной и электростатической линз, обеспечивает отсутствие магнитного поля снаружи объектива, что позволяет проводить съемку даже сильно намагниченных образцов.
    • Сканирующий микроскоп WIN SEM A8000
  • Сканирующий микроскоп WIN SEM A8000